Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami : Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Kytka, Milan, 1980- (Autore)
Altri autori:	Kováč, Jaroslav, 1947- (Relatore della tesi), Schreiber, Frank (Relatore della tesi)
Natura:	Manoscritto Libro
Lingua:	inglese
Pubblicazione:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009
Soggetti:	elektronika Mikroelektronika tenké vrstvy optické metódy
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu187379
005	20230413110922.8
008	090713s2009----xo------------------eng-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a eng
044			\|a xo
100	1		\|a Kytka, Milan, \|d 1980- \|4 aut \|u E210 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Katedra mikroelektroniky \|X 10203 \|U E210 \|Y 68 \|7 A000010203
245	1		\|a Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami : \|b Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2009
300			\|a 112 s
650		7	\|a elektronika \|2 stusub
650		7	\|a Mikroelektronika \|2 stusub
650		7	\|a tenké vrstvy \|2 stusub
650		7	\|a optické metódy \|2 stusub
700	1		\|a Kováč, Jaroslav, \|d 1947- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 2102 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000002102
700	1		\|a Schreiber, Frank \|4 ths
996			\|b 284ED01232 \|c E*ZP-96 \|l EE01 \|s A \|a 24 \|w stu187379_0001