Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami : Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Kytka, Milan, 1980- (Author)
Other Authors: Kováč, Jaroslav, 1947- (Thesis advisor), Schreiber, Frank (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:English
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu187379
005 20230413110922.8
008 090713s2009----xo------------------eng-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xo 
100 1 |a Kytka, Milan,  |d 1980-  |4 aut  |u E210  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Katedra mikroelektroniky  |X 10203  |U E210  |Y 68  |7 A000010203 
245 1 |a Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami :  |b Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2009 
300 |a 112 s 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
650 7 |a Mikroelektronika  |2 stusub 
650 7 |a tenké vrstvy  |2 stusub 
650 7 |a optické metódy  |2 stusub 
700 1 |a Kováč, Jaroslav,  |d 1947-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 2102  |U E030  |Y 549  |7 A000002102 
700 1 |a Schreiber, Frank  |4 ths 
996 |b 284ED01232  |c E*ZP-96  |l EE01  |s A  |a 24  |w stu187379_0001