Advances in Biometrics. International Conference, ICB 2007 : Korea, Seoul. 27.- 29. Aug. 2007. Proceedings /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Lee, Seong-Whan (Editor), Li, Stan Z. (Editor)
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: Berlin : Springer Verlag, 2007
Materias:
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Descripción
Descripción Física:1216 s
ISBN:978-3-540-74548-8