Odhaľovanie a diagnostika dislokácií na polovodičovom A3B5 materiále

Guardado en:
Autor principal: Matušková, Božena, 1986- (Autor)
Otros Autores: Škriniarová, Jaroslava, 1954- (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010
Materias:
chemické leptanie
Mikroelektronika
elektronika
diagnostika chýb
Acceso en línea:VAIS
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu209129
005 20150617230102.1
008 100818s2010------------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Matušková, Božena,  |d 1986-  |4 aut  |u E  |T FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |X 22823  |U E  |Y 30  |7 A000022823 
242 0 0 |a DETECTION OF CRYSTALLOGRAPHIC DEFECTS IN SEMICONDUCTOR MATERIAL GaP USING WET CHEMICAL ETCHING  |y eng 
245 1 |a Odhaľovanie a diagnostika dislokácií na polovodičovom A3B5 materiále 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2010 
300 |a 53 s 
650 7 |a chemické leptanie  |2 stusub 
650 7 |a Mikroelektronika  |2 stusub 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
650 7 |a diagnostika chýb  |2 stusub 
700 1 |a Škriniarová, Jaroslava,  |d 1954-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1866  |U E030  |Y 549  |7 A000001866 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=61389  |3 VAIS 

Ejemplares similares