Metódy testovateľnosti a rekonfigurateľnosti pamätí RAM vhodných pre vnorenie do SoC

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Moťovský, Emil, 1985- (Auteur)
Autres auteurs: Gramatová, Elena, 1948- (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
Publié: Bratislava : STU v Bratislave FIIT, 2010
Sujets:
Accès en ligne:VAIS
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu218469
005 20150617230114.6
008 101203s2010----xo------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Moťovský, Emil,  |d 1985-  |4 aut  |u I100  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačových systémov a sietí  |X 17069  |U I100  |Y 178  |7 A000017069 
242 0 0 |a Reliable design of self-testing and repairing memories  |y eng 
245 1 |a Metódy testovateľnosti a rekonfigurateľnosti pamätí RAM vhodných pre vnorenie do SoC 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FIIT,  |c 2010 
300 |a 58 s  |c príl. 
650 7 |a počítačové a komunikačné systémy a siete  |2 stusub 
650 7 |a Computer and Communication Systems and Networks  |2 estusub 
700 1 |a Gramatová, Elena,  |d 1948-  |4 ths  |u I100  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačových systémov a sietí  |X 4228  |U I100  |Y 178  |7 4228 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=74746  |3 VAIS 
996 |c I*DP83/10  |l II680  |s P  |a 0  |w stu218469_0001