Generovanie testov pre asynchrónne sekvenčné digitálne obvody
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FIIT,
2011
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | VAIS |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stu232522 | ||
| 005 | 20180423133104.1 | ||
| 008 | 110730s2011----xo------------------slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Dobai, Roland, |d 1983- |4 aut |u I100 |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií |T FIIT Ústav počítačových systémov a sietí |X 30837 |U I100 |Y 178 |7 A000030837 | |
| 242 | 0 | 0 | |a Test generation for asynchronous sequential digital circuits |y eng |
| 245 | 1 | |a Generovanie testov pre asynchrónne sekvenčné digitálne obvody | |
| 260 | |a Bratislava : |b STU v Bratislave FIIT, |c 2011 | ||
| 650 | 7 | |a Aplikovaná informatika |2 stusub | |
| 700 | 1 | |a Gramatová, Elena, |d 1948- |4 ths |u I100 |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií |T FIIT Ústav počítačových systémov a sietí |X 4228 |U I100 |Y 178 |7 4228 | |
| 856 | 4 | |a info a plný text |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=55905 |3 VAIS | |