Generovanie funkčných testov VLSI obvodov

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Štroffek, Michal, 1985- (Auteur)
Autres auteurs: Hudec, Ján, 1953- (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
Publié: Bratislava : STU v Bratislave FIIT, 2011
Sujets:
Accès en ligne:VAIS
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu232553
005 20150617230131.8
008 110730s2011----xo------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Štroffek, Michal,  |d 1985-  |4 aut  |u I100  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačových systémov a sietí  |X 22284  |U I100  |Y 178  |7 A000022284 
242 0 0 |a Generating of functional tests for VLSI circuits  |y eng 
245 1 |a Generovanie funkčných testov VLSI obvodov 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FIIT,  |c 2011 
300 |a 43 s 
650 7 |a poruchy  |2 stusub 
650 7 |a počítačové a komunikačné systémy a siete  |2 stusub 
650 7 |a Computer and Communication Systems and Networks  |2 estusub 
700 1 |a Hudec, Ján,  |d 1953-  |4 ths  |u I100  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačových systémov a sietí  |X 1995  |U I100  |Y 178  |7 A000001995 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=74729  |3 VAIS 
996 |b IDP132/11  |c I*DP132/11  |l II680  |s A  |a 24  |w stu232553_0001