Štruktúrna analýza nanoobjektov metódami elektrónovej mikroskopie : dát. obhaj. 4.5.2012, č. ved. odb. 26-13-09

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Križanová, Zuzana, 1983- (Verfasst von)
Weitere Verfasser:	Vávra, Ivo, 1949- (Betreuung Doktorarbeit)
Format:	Manuskript Buch
Sprache:	Slowakisch
Veröffentlicht:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2012
Schlagworte:	Microelectronics structural analysis štruktúrna analýza elektrónová mikroskopia
Online-Zugang:	VAIS
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu247803
005	20160603115534.9
008	120606s2012----xo------------------slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Križanová, Zuzana, \|d 1983- \|4 aut \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 27409 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000027409
242	0	0	\|a Structural analysis of nanoobjects by methods of electron microscopy \|y eng
245	1		\|a Štruktúrna analýza nanoobjektov metódami elektrónovej mikroskopie : \|b dát. obhaj. 4.5.2012, č. ved. odb. 26-13-09
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2012
300			\|a 89 s
650		7	\|a Microelectronics \|2 estusub
650		7	\|a structural analysis \|2 estusub
650		7	\|a štruktúrna analýza \|2 stusub
650		7	\|a elektrónová mikroskopia \|2 stusub
700	1		\|a Vávra, Ivo, \|d 1949- \|4 ths \|X 5391 \|7 A000005391
856	4		\|a info a plný text \|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=64297 \|3 VAIS
996			\|b 284ED01364 \|c E*ZP-228 \|l EE01 \|s A \|a 24 \|w stu247803_0001