Vplyv mikroštruktúry kapacitora na báze TiO2 dielektrika s vysokou dielektrickou konštantou na jeho elektrické vlastnosti
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2012
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | VAIS |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Vplyv mikroštruktúry kapacitora na báze TiO2 dielektrika s vysokou dielektrickou konštantou na jeho elektrické vlastnosti
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Optimalizácia hradlového dielektrika organických poľom riadených tranzistorov (OFET)
- Príprava podvojných oxidov na báze TiO2 : Obh. 3.6.1991 /
- TiO2 fotokatalýza základy a aplikace /
- Vplyv koncentrácie TiO2 na vlastnosti keramického systému B4C + TiO2
- Formovanie mikroštruktúry v peritektickej zliatine na báze TiAl