Noncontact Atomic Force Microscopy : Nanoscience and Technology. Volume 2

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Morita, Seizo (Herausgegeben von), Giessibl, Franz J. (Herausgegeben von), Wiesendanger, Roland (Herausgegeben von)
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Berlin : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2009
Schlagworte:	elektrónová mikroskopia
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MARC


LEADER	00000nam a22000003a 4500
001	stu255957
005	20190206105217.9
008	121017s--------gw------------------eng-d
020			\|a 978-3-642-01494-9
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a eng
044			\|a gw
080			\|a 538.9 \|7 stu_us_auth*stu7967
080			\|a 537.533.35
100	1		\|a Morita, Seizo \|4 edt
245	1		\|a Noncontact Atomic Force Microscopy : \|b Nanoscience and Technology. Volume 2
260			\|a Berlin : \|b Springer-Verlag Berlin Heidelberg, \|c 2009
300			\|a 401 s
650		7	\|a elektrónová mikroskopia \|2 stusub
700	1		\|a Giessibl, Franz J. \|4 edt
700	1		\|a Wiesendanger, Roland \|4 edt
996			\|b 284EK89127 \|c E*89127 \|l EE33 \|s P \|a 0 \|w stu255957_0001