Ion Beams in Materials Processing and Analysis

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Schmidt, Bernd (Verfasst von), Wetzig, Klaus (Verfasst von)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Wien : Springer Verlag, 2013
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam a22000003a 4500
001 stu262313
005 20150617225642.0
008 130207s2013----au------------------eng-d
020 |a 978-3-211-99355-2 
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a au 
080 |a 620 
100 1 |a Schmidt, Bernd  |4 aut 
245 1 |a Ion Beams in Materials Processing and Analysis 
260 |a Wien :  |b Springer Verlag,  |c 2013 
300 |a 418 s 
650 7 |a optické materiály  |2 stusub 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
700 1 |a Wetzig, Klaus  |4 aut 
996 |b 284M084780  |c M*13433-1  |l MMST  |s A  |a 24  |w stu262313_0001 
996 |b 284M084789  |c M*13433-10  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0002 
996 |b 284M084788  |c M*13433-9  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0003 
996 |b 284M084787  |c M*13433-8  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0004 
996 |b 284M084786  |c M*13433-7  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0005 
996 |b 284M084785  |c M*13433-6  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0006 
996 |b 284M084784  |c M*13433-5  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0007 
996 |b 284M084783  |c M*13433-4  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0008 
996 |b 284M084782  |c M*13433-3  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0009 
996 |b 284M084781  |c M*13433-2  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu262313_0010