Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách

Gespeichert in:
1. Verfasser: Farkaš, Ladislav, 1985- (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Čaplovič, Ľubomír, 1955- (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: Trnava : STU v Bratislave MTF UMAT, 2013
Schlagworte:
Materials Engineering
X-ray diffraction
thin layer
röntgenová difrakcia
zvyškové napätia
Online-Zugang:VAIS
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu268496
005 20160719160716.0
008 130615s2013----xo------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Farkaš, Ladislav,  |d 1985-  |4 aut  |X 37197  |7 A000037197 
242 0 0 |a Analysis of voltage ratios in thin superhard layers  |y eng 
245 1 |a Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách 
260 |a Trnava :  |b STU v Bratislave MTF UMAT,  |c 2013 
650 7 |a Materials Engineering  |2 estusub 
650 7 |a X-ray diffraction  |2 estusub 
650 7 |a thin layer  |2 estusub 
650 7 |a röntgenová difrakcia  |2 stusub 
650 7 |a zvyškové napätia  |2 stusub 
700 1 |a Čaplovič, Ľubomír,  |d 1955-  |4 ths  |u M1000  |U MTF Materiálovotechnologická fakulta  |T MTF Ústav materiálov  |X 315  |U M1000  |Y 81  |7 A000000315 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=90890  |3 VAIS 
996 |c M*DP-11254  |l MMSKP  |s P  |a 0  |w stu268496_0001 

Ähnliche Einträge