Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody : dát. obhaj. 27.8.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2013
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | VAIS |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody :
- Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov : dát. obhaj. 30.5.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Analógové a číslicové integrované obvody /
- Návrh napäťovej referencie pre analógové integrované obvody V CMOS technológii
- Vývoj zariadenia pre automatizované meranie analógových integrovaných obvodov
- Aplikácia oscilačnej metódy pre testovanie analógových integrovaných obvodov
- Analýza vybraných vlastností analógových integrovaných obvodov