Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS : dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13

Enregistré dans:
Auteur principal: Rybár, Jakub, 1986- (Auteur)
Autres auteurs: Stuchlíková, Ľubica, 1967- (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
Publié: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2013
Sujets:
Mikroelektronika
Microelectronics
Accès en ligne:VAIS
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu279594
005 20160226104751.8
008 131207s2013----xo------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Rybár, Jakub,  |d 1986-  |4 aut  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 23192  |U E030  |Y 549  |7 A000023192 
242 0 0 |a Study of quality of semiconductor materials and structures by DLTS method  |y eng 
245 1 |a Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS :  |b dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2013 
300 |a 131 s  |c AUTOREF. 2013, 22 s. 
650 7 |a Mikroelektronika  |2 stusub 
650 7 |a Microelectronics  |2 estusub 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica,  |d 1967-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=81830  |3 VAIS 
996 |b 284ED01438  |c E*ZP-302  |l EE01  |s A  |a 24  |w stu279594_0001 

Documents similaires