Proceedings of the Second Workshop on Hierarchical Test Generation, Appendix : Microelectronic Technology Park, Duisburg, Germany September 25-26, 1995

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Detalles Bibliográficos
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: Duisburg : Gerhard-Mercator Universität, 1995
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Descripción
Descripción Física:[200] s
ISBN:0942-4164