Proceedings of the Second Workshop on hierarchical Test Generation : Microelectronics technology Park, Duisburg, Germany September 25-26, 1995

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Duisburg : Gerhard-Mercator Universität, 1995
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!