Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
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| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
New York :
Springer Science-Business Media,
2003
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| Ausgabe: | 3rd Ed. |
| Schlagworte: | |
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| Beschreibung: | 690 s |
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| ISBN: | 978-0-306-47292-3 |