Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS /

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Grasserbauer, M (Autore), Dudek, H.J (Autore), Enel, M.F (Autore)
Natura: Libro
Lingua:tedesco
Pubblicazione: Berlin : Akademie Verlag, 1986
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MARC

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