Vlastnosti polovodičových štruktúr ožiarených ťažkými iónmi merané pomocou nábojovej DLTS metódy : Dipl.práca
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
1998
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Vlastnosti polovodičových štruktúr ožiarených ťažkými iónmi merané pomocou nábojovej DLTS metódy :
- Radiačná odolnosť MOS štruktúr ožiarených 130MeV ťažkými iónmi Xe
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Skúmanie vlastností štruktúry MOS s nehomogénnym substrátom ožiarenej ťažkými vysokoenergetickýcmi iónmi
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Jadrové reakcie s ťažkými iónmi
- Modelovanie a simulácia elektrických vlastností polovodičových štruktúr : Dipl.práca