Meranie multivrstvových štruktúr pre mikroelektroniku metódou hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov : Dipl.práca

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Gábor, Zoltán (Author)
Other Authors: Fesič, Vladimír (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 1999
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu52699
005 20160719164907.5
008 000320s1999----xo------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Gábor, Zoltán  |4 aut 
245 1 |a Meranie multivrstvových štruktúr pre mikroelektroniku metódou hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov :  |b Dipl.práca 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 1999 
300 |a 49 s 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
700 1 |a Fesič, Vladimír  |4 ths