Aplikácia EELS spektroskopie na analýzu ultratenkých vrstiev CNx a BNx pripravených metódou IBAD : Dizertačná práca
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Trnava :
STU v Bratislave MTF,
1999
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Aplikácia EELS spektroskopie na analýzu ultratenkých vrstiev CNx a BNx pripravených metódou IBAD :
- Príprava a vlastnosti tenkých oxidových supravodivých vrstiev na báze TI a možnosti ich aplikácie v oblasti kryoelektroniky : č.ved.odb. 5-2-48. Obhaj. 22.9.2010
- Štúdium tenkých organických vrstiev amfifilných molekúl : Habil.práca : Obh. 21.11.1995 /
- Fyzika pre všetkých : Elektróny. 3.diel /
- Elektrony : Fyzika dlja vsech 3 /
- Elektrony i fotony v neuporjadočennych splavach
- Príprava, charakterizácia a tvarovanie ultratenkých vrstiev PtSe2