Aplikácia EELS spektroskopie na analýzu ultratenkých vrstiev CNx a BNx pripravených metódou IBAD : Dizertačná práca
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Trnava :
STU v Bratislave MTF,
1999
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Aplikácia EELS spektroskopie na analýzu ultratenkých vrstiev CNx a BNx pripravených metódou IBAD :
- Príprava a vlastnosti tenkých oxidových supravodivých vrstiev na báze TI a možnosti ich aplikácie v oblasti kryoelektroniky : č.ved.odb. 5-2-48. Obhaj. 22.9.2010
- Štúdium tenkých organických vrstiev amfifilných molekúl : Habil.práca : Obh. 21.11.1995 /
- Fyzika pre všetkých : Elektróny. 3.diel /
- Elektrony : Fyzika dlja vsech 3 /
- Elektrony i fotony v neuporjadočennych splavach
- Príprava, charakterizácia a tvarovanie ultratenkých vrstiev PtSe2