Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2001
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
- Skúmanie nízkorozmerových štruktúr spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Analýza povrchov vzoriek použitím sondovej hrotovej mikroskopie
- Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Fyzika tuhých látok /