Skúmanie vplyvu ťažkých iónov Kr a Bi na vlastnosti tranzistorov KF 520 a KF 522
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2001
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Skúmanie vplyvu ťažkých iónov Kr a Bi na vlastnosti tranzistorov KF 520 a KF 522
- Vplyv ťažkých iónov Kr na vlastnosti štruktúry MOS so substrátom dotovaným dusíkom
- Analýza spektrometrických vlastností iónovo - optickej trasy ECR laboratória ťažkých iónov
- Štúdium fázového diagramu sústavy NaCl-KCl-KF
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností výkonových tranzistorov
- Príprava a vlastnosti AlGaN/GaN tranzistorov HEMT
- Fazové rovnováhy v sústave NaF-KF-AlF3