Systém optimalizácie citlivosti zariadenia SIMS
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2001
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Systém optimalizácie citlivosti zariadenia SIMS
- Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr : Diplomová práca
- Moderné zabezpečovacie zariadenia v autoelektronike
- Mapovanie citlivosti fotodiód
- Parametre spoľahlivosti elektronického zariadenia = (Reliability parametrs of electronic equipment) : Dipl.práca
- Návrh zariadenia pre testovanie absorbčných vlastností materiálov
- Analýza citlivosti investičných projektov