Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
- Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Charakterizácia a vlastnosti štruktúr typu MIS-HFET na báze GaN : č. ved. odb. 26-13-9, obhaj. 11.6.2008
- Príspevok k štúdiu pohyblivých iónov v izolačnej vrstve štruktúr MIS : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 11.11.1982 /
- Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 10.3.2006
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov