Charakterizácia kvality technologického procesu výroby polovodičových štruktúr OCVD metódou
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | , |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Charakterizácia kvality technologického procesu výroby polovodičových štruktúr OCVD metódou
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Diagnostika polovodičových štruktúr metódou fotoluminiscencie : Dipl.práca
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Skúmanie kvality polovodičových štruktúr
- Charakterizácia polovodičových štruktúr : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 03.09.2003