Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr PtSi-Si

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Filipčík, Peter (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Donoval, Daniel, 1953- (Betreuung Doktorarbeit), Kúdela, P. (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2003
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu88012
005 20160719164717.1
008 040616s2003------------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Filipčík, Peter  |4 aut 
245 1 |a Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr PtSi-Si 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2003 
300 |a 54 s 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
700 1 |a Donoval, Daniel,  |d 1953-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 2039  |U E030  |Y 549  |7 A000002039 
700 1 |a Kúdela, P.  |4 ths