Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | , |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
- Diagnostika polovodičových štruktúr metódou fotoluminiscencie : Dipl.práca
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Meranie vybraných dynamických parametrov polovodičových fotodetektorov
- Optické meranie hrúbok epitaxných vrstiev rastených metódou molekulárnej zväzkovej epitaxie (MBE) : Dipl.práca
- Charakterizácia kvality technologického procesu výroby polovodičových štruktúr OCVD metódou
- Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT štruktúr na báze GaN/AlxGa1-xN/GaN/AlxGa1-xN/AlN