Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Meranie a vyhodnocovanie koncentračného profilu N(x) polovodičových vrstiev metódou PCIV
- Diagnostika polovodičových štruktúr metódou fotoluminiscencie : Dipl.práca
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Meranie vybraných dynamických parametrov polovodičových fotodetektorov
- Optické meranie hrúbok epitaxných vrstiev rastených metódou molekulárnej zväzkovej epitaxie (MBE) : Dipl.práca
- Charakterizácia kvality technologického procesu výroby polovodičových štruktúr OCVD metódou
- Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT štruktúr na báze GaN/AlxGa1-xN/GaN/AlxGa1-xN/AlN