Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices
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| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
New York :
Plenum Press,
1979
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|
MARC
| LEADER | 00000nam a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stu91924 | ||
| 005 | 20150617225620.5 | ||
| 008 | 041202s1979------------------------eng-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 080 | |a 621.382 | ||
| 080 | |a 061.3 |7 stu_us_auth*stu8260 | ||
| 100 | 1 | |a Zemel, Jay N. |4 com | |
| 245 | 1 | |a Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices | |
| 260 | |a New York : |b Plenum Press, |c 1979 | ||
| 300 | |a 11, 782 s | ||
| 996 | |b E49822 |c E*49822 |l EE05 |s P |a 0 |w stu91924_0001 | ||