Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku : Obhaj.15.3.2005
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch Englisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku :
- Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy /
- Vplyv segregácie fosforu na hraniciach zŕn na lomové chovanie Fe-Si-P : Diplomová práca
- Metody analýzy povrchů : Elektronová spektroskopie
- Metody elektronové spektroskopie /
- Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 28.02.1996 /
- Štúdium vplyvu regeneračného žíhania na mikroštruktúru konštrukčných materiálov jadrových zariadení s použitím pozitrónovej anihilačnej spektroskopie