Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits /

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Altri autori: Huertas, José L. (Compilatore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Boston : Kluwer Academic Publishers, 2004
Soggetti:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000nam a22000003a 4500
001 stu98591
005 20150617225819.0
008 051129s2004----xxu-----------------eng-d
020 |a 1-4020-7724-6 
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xxu 
080 |a 621.382.049.77 
080 |a 621.317.799 
080 |a 519.718  |7 stu_us_auth*stu9873 
084 |a A7220  |2 INS 
084 |a A8160  |2 INS 
084 |a B1265  |2 INS 
084 |a C5120  |2 INS  |7 stu_us_auth*stu6735 
100 1 |a Huertas, José L.  |4 com 
245 1 |a Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits /  |c Ed.: Huertas, J.L. 
260 |a Boston :  |b Kluwer Academic Publishers,  |c 2004 
300 |a 298 s 
650 7 |a integrované obvody  |2 stusub 
650 7 |a testovanie obvodov  |2 stusub 
650 7 |a diagnostické systémy  |2 stusub 
996 |b 284EK85785  |c E*85785  |l EE12  |s P  |a 0  |w stu98591_0001