Systém pre paralelné meranie opakovaného UIS testu

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Dlhoš, Pavol Oliver (Autor)
Otros Autores: Marek, Juraj (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: 2025
Materias:
Acceso en línea:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=184528
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp100265
003 SK-STU
005 20250614210703.1
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Dlhoš, Pavol Oliver  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 111067  |U E030  |Y 549  |7 111067 
242 0 1 |a System for parallel testing of power MOSFETs under UIS conditions  |y eng 
245 1 0 |a Systém pre paralelné meranie opakovaného UIS testu 
260 |c 2025 
650 4 |a ESD protection  |2 eng 
650 4 |a BCD  |2 eng 
650 4 |a UIS test  |2 eng 
650 4 |a paralelisation  |2 eng 
650 4 |a MOSFET  |2 eng 
650 4 |a microcontroller  |2 eng 
650 4 |a ESP32  |2 eng 
650 4 |a UIS test  |2 slo 
650 4 |a paralelizácia  |2 slo 
650 4 |a MOSFET  |2 slo 
650 4 |a mikrokontrolér  |2 slo 
650 4 |a ESP32  |2 slo 
650 4 |a ESD ochrana  |2 slo 
650 4 |a BCD  |2 slo 
700 1 |a Marek, Juraj  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 24483  |U E030  |Y 549  |7 A000024483 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=184528