Kósa, A., & Stuchlíková, Ľ. (2016). Deep Level Transient Spectroscopy study of emission and capture processes in multilayer semiconductor structures: Dát. obhajoby 23.8.2016, č. ved. odboru 5-2-13. STU v Bratislave FEI.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Kósa, Arpád, a Ľubica Stuchlíková. Deep Level Transient Spectroscopy Study of Emission and Capture Processes in Multilayer Semiconductor Structures: Dát. Obhajoby 23.8.2016, č. Ved. Odboru 5-2-13. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2016.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Kósa, Arpád, a Ľubica Stuchlíková. Deep Level Transient Spectroscopy Study of Emission and Capture Processes in Multilayer Semiconductor Structures: Dát. Obhajoby 23.8.2016, č. Ved. Odboru 5-2-13. STU v Bratislave FEI, 2016.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..