Deep Level Transient Spectroscopy study of emission and capture processes in multilayer semiconductor structures : dát. obhajoby 23.8.2016, č. ved. odboru 5-2-13

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Kósa, Arpád (Autore)
Altri autori: Stuchlíková, Ľubica (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
inglese
Pubblicazione: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2016
Soggetti:
Accesso online:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130779
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