Deep Level Transient Spectroscopy study of emission and capture processes in multilayer semiconductor structures : dát. obhajoby 23.8.2016, č. ved. odboru 5-2-13
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| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque anglais |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2016
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| Sujets: | |
| Accès en ligne: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130779 |
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| Description matérielle: | 132 s. |
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