Deep Level Transient Spectroscopy study of emission and capture processes in multilayer semiconductor structures : dát. obhajoby 23.8.2016, č. ved. odboru 5-2-13
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak English |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2016
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130779 |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|