Štruktúrna analýza základných materiálov pomocou rtg difrakcie

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Kún, Gergely (Author)
Other Authors: Novák, Patrik (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: 2016
Subjects:
Online Access:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130863
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp42880
003 SK-STU
005 20160721094855.2
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Kún, Gergely  |u 036000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 35180  |U E060  |Y 817  |7 35180 
242 0 1 |a Structural analysis of basic materials using X-ray diffraction  |y eng 
245 1 0 |a Štruktúrna analýza základných materiálov pomocou rtg difrakcie 
260 |c 2016 
300 |a 52 s. 
650 4 |a kryštalografia  |2 slo 
650 4 |a theta/2theta  |2 slo 
650 4 |a rtg difrakcia  |2 slo 
650 4 |a analýza materiálov  |2 slo 
650 4 |a Sn  |2 slo 
650 4 |a Al  |2 slo 
650 4 |a Zn  |2 slo 
650 4 |a SnCl2  |2 slo 
650 4 |a PDF-2  |2 slo 
650 4 |a crystallography  |2 eng 
650 4 |a theta/2theta  |2 eng 
650 4 |a X-ray diffraction  |2 eng 
650 4 |a material analysis  |2 eng 
650 4 |a Sn  |2 eng 
650 4 |a Al  |2 eng 
650 4 |a Zn  |2 eng 
650 4 |a SnCl2  |2 eng 
650 4 |a PDF-2  |2 eng 
700 1 |a Novák, Patrik  |u 036000  |k Z3  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 51414  |U E060  |Y 817  |7 A000051414 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130863 
996 |b 284ER02049  |c E*Bc- 2049  |l EE32  |s P  |a 0  |w stuzp42880_0001 
SQL |a stuzp42880  |b DBP  |c SLO  |d Štruktúrna analýza základných materiálov pomocou rtg difrakcie  |e 35180  |f Kún, Gergely  |g 036000  |h 51414  |i Novák, Patrik  |j 20160707  |k 1147  |l 03  |m http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130863  |n B-ENE  |o 5.2.9. elektrotechnika