Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách : dátum obhajoby 15.12.2020

Gespeichert in:
1. Verfasser: Šovčík, Michal (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Stopjaková, Viera (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Schlagworte:
spoľahlivosť IO
výťažnosť výroby IO
PVTA rozptyl
plne diferenciálny operačný zosilňovač
ofset vstupného napätia
systémy spojité v čase
nízke THD
ultra-nízky príkon
autonómnosť
digitálna kalibrácia analógových IO
digital calibration of analog IC
PVTA variations
reliability of IC
low THD
ultra-low power
yield of IC fabrication
input offset voltage
continuous-time systems
autonomy
fully differential operational amplifier
Online-Zugang:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137895
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

Ähnliche Einträge: Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách :

Ähnliche Einträge