Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách : dátum obhajoby 15.12.2020
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2020
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137895 |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Rozvoj digitálnych metód kalibrácie analógových IO v nanometrových technológiách :
- Príspevok k ultra nízkonapäťovým a nízkopríkonovým systémom na čipe
- Návrh sigma-delta prevodníka s ultra-nízkym napájacím napätím v nanometrovej CMOS technológii
- Rozvoj metód návrhu nízkopríkonových IO a získavania energie priamo na čipe : dát. obhaj. 28.11.2016, č. ved. odboru 5-2-13
- Návrh snímacieho rozhrania v CMOS technológii pre odporový senzor
- Teplotná charakterizácia polovodičovych prvkov a obvodov
- Webová platforma pre analýzu dát z IIOT snímačov