Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
2019
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481 |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stuzp63205 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20190624101834.8 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Dopirák, Andrej |u 033000 |k Z4 |4 aut |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 72680 |U E030 |Y 549 |7 72680 | |
| 242 | 0 | 1 | |a Characterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods |y eng |
| 245 | 1 | 0 | |a Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami |
| 260 | |c 2019 | ||
| 300 | |a 68 s., |b CD-ROM | ||
| 650 | 4 | |a SERS |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Optické metódy charakterizácie |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Ramanovský rozptyl |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Ramanovské čiary |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Spektrometria |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Spektrum |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Polovodič |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Optical methods of characterization |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Raman scattering |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Raman lines |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Spectrometry |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Spectrum |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Semiconductor |2 eng | |
| 650 | 4 | |a SERS |2 eng | |
| 700 | 1 | |a Kováč, Jaroslav |u 033000 |k Z1 |4 ths |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 42526 |U E030 |Y 549 |7 A000042526 | |
| 856 | 4 | |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481 | |
| 996 | |b 284EP12158 |c E*DIPL- 12158 |l EE33 |s P |a 0 |w stuzp63205_0001 | ||