Funkčné SBST testovanie systémov na čipe

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Juhásová, Nadežda (Autor)
Otros Autores: Hudec, Ján (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: 2017
Materias:
Acceso en línea:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=115521
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp64415
003 SK-STU
005 20170624213350.8
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Juhásová, Nadežda  |u 070400  |4 aut  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky  |X 73944  |U I400  |Y 672  |7 73944 
242 0 1 |a Functional SBST system testing on chip  |y eng 
245 1 0 |a Funkčné SBST testovanie systémov na čipe 
260 |c 2017 
650 4 |a Procesor  |2 slo 
650 4 |a Testovanie  |2 slo 
650 4 |a Genetický algoritmus  |2 slo 
650 4 |a Genetic algorithm  |2 eng 
650 4 |a Processor  |2 eng 
650 4 |a Testing  |2 eng 
700 1 |a Hudec, Ján  |u 070400  |k Z1  |4 ths  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky  |X 1995  |U I400  |Y 672  |7 A000001995 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=115521 
996 |c I*BAP73/17  |l II680  |s P  |a 0  |w stuzp64415_0001