Optimálne usporiadanie pamätí pre ich testovanie v systéme na čipe
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
2017
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=131631 |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stuzp64547 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20170624213535.9 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 100 | 1 | |a Hrobák, Maroš |u 070400 |4 aut |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií |T FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky |X 73909 |U I400 |Y 672 |7 73909 | |
| 242 | 0 | 1 | |a Optimal memory-testing layout for testing in the system on a chip |y eng |
| 245 | 1 | 0 | |a Optimálne usporiadanie pamätí pre ich testovanie v systéme na čipe |
| 260 | |c 2017 | ||
| 650 | 4 | |a optimalizácia |2 slo | |
| 650 | 4 | |a pamäť |2 slo | |
| 650 | 4 | |a Build-in Self-Test |2 slo | |
| 650 | 4 | |a optimization |2 eng | |
| 650 | 4 | |a memory |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Build-in Self-Test |2 eng | |
| 700 | 1 | |a Šubín, Juraj |u 070400 |k Z3 |4 ths |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií |T FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky |X 64561 |U I400 |Y 672 |7 A000064561 | |
| 856 | 4 | |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=131631 | |
| 996 | |b 11238 |c I* BAP19/17 |l II680 |s P |a 0 |w stuzp64547_0001 | ||