Radiation Damage Studies of the ePix100 Detector at the EuXFEL : dátum obhajoby 28.7.2021
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco inglés |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145629 |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stuzp66104 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20230413102125.5 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Klačková, Ivana |u 036000 |4 aut |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva |X 47586 |U E060 |Y 817 |7 A000047586 | |
| 242 | 0 | 1 | |a Štúdium radiačného poškodenia detektora ePix100 v EuXFEL |y slo |
| 245 | 1 | 0 | |a Radiation Damage Studies of the ePix100 Detector at the EuXFEL : |b dátum obhajoby 28.7.2021 |
| 260 | |a Bratislava : |b STU v Bratislave FEI, |c 2021 | ||
| 300 | |a 154 s. | ||
| 650 | 4 | |a detektory RTG žiarenia |2 slo | |
| 650 | 4 | |a radiačné poškodenie polovodičových detektorov |2 slo | |
| 650 | 4 | |a charakterizácia detektora |2 slo | |
| 650 | 4 | |a röntgenový laser voľných elektrónov |2 slo | |
| 650 | 4 | |a X-ray detectors |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Radiation damage of semiconductor detectors |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Detector performance characterization |2 eng | |
| 650 | 4 | |a Free-electron laser |2 eng | |
| 700 | 1 | |a Šagátová, Andrea |u 036000 |k Z1 |4 ths |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva |X 2564 |U E060 |Y 817 |7 2564 | |
| 856 | 4 | |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145629 | |
| 996 | |b 284ED01665 |c E*ZP-528 |l EE01 |s A |a 24 |w stuzp66104_0001 | ||