Radiation Damage Studies of the ePix100 Detector at the EuXFEL : dátum obhajoby 28.7.2021

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Klačková, Ivana (Auteur)
Autres auteurs: Šagátová, Andrea (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
anglais
Publié: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
Sujets:
Accès en ligne:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145629
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp66104
003 SK-STU
005 20230413102125.5
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xo 
100 1 |a Klačková, Ivana  |u 036000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 47586  |U E060  |Y 817  |7 A000047586 
242 0 1 |a Štúdium radiačného poškodenia detektora ePix100 v EuXFEL  |y slo 
245 1 0 |a Radiation Damage Studies of the ePix100 Detector at the EuXFEL :  |b dátum obhajoby 28.7.2021 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2021 
300 |a 154 s. 
650 4 |a detektory RTG žiarenia  |2 slo 
650 4 |a radiačné poškodenie polovodičových detektorov  |2 slo 
650 4 |a charakterizácia detektora  |2 slo 
650 4 |a röntgenový laser voľných elektrónov  |2 slo 
650 4 |a X-ray detectors  |2 eng 
650 4 |a Radiation damage of semiconductor detectors  |2 eng 
650 4 |a Detector performance characterization  |2 eng 
650 4 |a Free-electron laser  |2 eng 
700 1 |a Šagátová, Andrea  |u 036000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 2564  |U E060  |Y 817  |7 2564 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145629 
996 |b 284ED01665  |c E*ZP-528  |l EE01  |s A  |a 24  |w stuzp66104_0001