Radiačná odolnosť polovodičových detektorov

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Škerlik, Matej (Author)
Outros Autores: Zaťko, Bohumír (Thesis advisor)
Formato: Manuscrito Livro
Idioma:eslovaco
Publicado em: 2019
Assuntos:
Acesso em linha:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145793
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp68620
003 SK-STU
005 20200103104829.1
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Škerlik, Matej  |u 036000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 93611  |U E060  |Y 817  |7 93611 
242 0 1 |a Radiation hardness of semiconductor detectors  |y eng 
245 1 0 |a Radiačná odolnosť polovodičových detektorov 
260 |c 2019 
300 |a 60 s., príl. 
650 4 |a detektor  |2 slo 
650 4 |a radiácia  |2 slo 
650 4 |a radiačná odolnosť  |2 slo 
650 4 |a detector  |2 eng 
650 4 |a radiation  |2 eng 
650 4 |a radiation hardness  |2 eng 
700 1 |a Zaťko, Bohumír  |4 ths 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145793 
996 |b 284EP12137  |c E*DIPL- 12137  |l EE36  |s P  |a 0  |w stuzp68620_0001