Štúdium nanočastíc pomocou rtg difrakcie

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Novák, Ladislav (Author)
Other Authors: Novák, Patrik (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: 2019
Subjects:
Online Access:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=147775
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp70535
003 SK-STU
005 20190718130915.6
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Novák, Ladislav  |u 036000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 95610  |U E060  |Y 817  |7 95610 
242 0 1 |a Study of nanoparticles by X-ray diffraction  |y eng 
245 1 0 |a Štúdium nanočastíc pomocou rtg difrakcie 
260 |c 2019 
300 |a 43 s. 
650 4 |a nanočastice  |2 slo 
650 4 |a nanočastice zlata  |2 slo 
650 4 |a rtg difrakcia  |2 slo 
650 4 |a GIXRD  |2 slo 
650 4 |a Bragg-Brentano  |2 slo 
650 4 |a mriežkový parameter  |2 slo 
650 4 |a Scherrerova rovnica  |2 slo 
650 4 |a zvyškové napätie  |2 slo 
650 4 |a lattice constant  |2 eng 
650 4 |a nanoparticles  |2 eng 
650 4 |a gold nanoparticles  |2 eng 
650 4 |a X-ray diffraction  |2 eng 
650 4 |a GIXRD  |2 eng 
650 4 |a Bragg-Brentano  |2 eng 
650 4 |a Scherrer formulae  |2 eng 
650 4 |a residual stress  |2 eng 
700 1 |a Novák, Patrik  |u 036000  |k Z2  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 51414  |U E060  |Y 817  |7 A000051414 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=147775 
996 |b 284ER02856  |c E*Bc- 2856  |l EE36  |s P  |a 0  |w stuzp70535_0001