Charakterizácia povrchov moderných štruktúr a prvkov rozšírenými metódami AFM

Saved in:
Main Author: Hausner, Michal (Author)
Other Authors: Kováč, Jaroslav (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Subjects:
KPFM
AFM
EFM
topografia povrchu
XEI
surface topography
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DE4D0DBB221E90D1189F8BEC259&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp74021
003 SK-STU
005 20200730095301.9
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Hausner, Michal  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 72632  |U E030  |Y 549  |7 72632 
242 0 1 |a Characterization of modern structures and devices surfaces using advanced AFM methods  |y eng 
245 1 0 |a Charakterizácia povrchov moderných štruktúr a prvkov rozšírenými metódami AFM 
260 |c Bratislava :  |c STU v Bratislave FEI,  |c 2020 
300 |a 56 s. 
650 4 |a KPFM  |2 slo 
650 4 |a AFM  |2 slo 
650 4 |a EFM  |2 slo 
650 4 |a topografia povrchu  |2 slo 
650 4 |a XEI  |2 slo 
650 4 |a AFM  |2 eng 
650 4 |a EFM  |2 eng 
650 4 |a surface topography  |2 eng 
650 4 |a XEI  |2 eng 
650 4 |a KPFM  |2 eng 
700 1 |a Kováč, Jaroslav  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 42526  |U E030  |Y 549  |7 A000042526 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DE4D0DBB221E90D1189F8BEC259&seo=CRZP-detail-kniha 

Similar Items