Automatic Unit Test generation using Machine learning methods

Gespeichert in:
1. Verfasser: Čegiň, Ján (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Rástočný, Karol (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Englisch
Veröffentlicht: 2019
Schlagworte:
MC/DC testovacie kritérium
Strojové učenie
Jednotkové testy
Generovanie testovacích dát
Neurónové siete
Spätnoväzovné učenie
Generovanie testov
Machine learning
Reinforcement learning
Unit test
MC/DC test criterion
Test data generation
Test generation
Neural network
Online-Zugang:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145528
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