Skúmanie emisných a záchytných procesov v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Vadovský, Jakub (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Stuchlíková, Ľubica (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
Schlagworte:
Online-Zugang:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DF2AC71C78DA39E9DFAB2873752&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp77214
003 SK-STU
005 20211118131711.4
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Vadovský, Jakub  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 86365  |U E030  |Y 549  |7 86365 
242 0 1 |a Investigation of Emission and Capture Processes in InAlGaN/GaN HEMT Structures by Deep Level Transient Spectroscopy  |y eng 
245 1 0 |a Skúmanie emisných a záchytných procesov v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2021 
300 |a 70 s. 
650 4 |a DLTS  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a hlboké energetické hladiny  |2 slo 
650 4 |a pasivácia  |2 slo 
650 4 |a HEMT  |2 slo 
650 4 |a InAlGaN/GaN  |2 slo 
650 4 |a DLTS  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
650 4 |a deep energy levels  |2 eng 
650 4 |a passivation  |2 eng 
650 4 |a HEMTS  |2 eng 
650 4 |a InAlGaN/GaN  |2 eng 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DF2AC71C78DA39E9DFAB2873752&seo=CRZP-detail-kniha