Analýza VA charakteristík vybraných elektronických súčiastok s využitím automatizovaného meracieho pracoviska

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Csermák, Adam (Autor)
Otros Autores: Feiler, Martin (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
Materias:
Acceso en línea:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=CF9E62B1F4156FE3B62A0284D7C8&seo=CRZP-detail-kniha
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp77631
003 SK-STU
005 20210817123958.9
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Csermák, Adam  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 85797  |U E030  |Y 549  |7 85797 
242 0 1 |a Analysis of I-V characteristics of selected electronic components using an automated measuring workstation  |y eng 
245 1 0 |a Analýza VA charakteristík vybraných elektronických súčiastok s využitím automatizovaného meracieho pracoviska 
260 |a Bratislava : 
260 |b STU v Bratislave FEI, 
260 |c 2021 
300 |a 57 s. 
650 4 |a rezistor  |2 slo 
650 4 |a volt-ampérová charakteristika  |2 slo 
650 4 |a LabVIEW  |2 slo 
650 4 |a dióda  |2 slo 
650 4 |a bipolárny tranzistor  |2 slo 
650 4 |a volt-ampere characteristics  |2 eng 
650 4 |a LabVIEW  |2 eng 
650 4 |a resistor  |2 eng 
650 4 |a diode  |2 eng 
650 4 |a bipolar transistor  |2 eng 
700 1 |a Feiler, Martin  |u 033000  |k Z3  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 74517  |U E030  |Y 549  |7 74517 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=CF9E62B1F4156FE3B62A0284D7C8&seo=CRZP-detail-kniha