Meracie pracovisko charakterizácie parametrov elektronických prvkov pri zvýšených teplotách do 250°C

Uložené v:
Hlavný autor: Hrčka, Peter (Autor)
Ďalší autori: Štofanik, Vladimír (Vedúci práce)
Médium: Rukopis Kniha
Jazyk:Slovak
Vydavateľské údaje: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Predmet:
charakterizácia súčiastok
vysokoteplotné merania
testovanie spoľahlivosti
meracie pracovisko
characterization of semiconductor devices
high temperature measurements
reliability testing
test bench
On-line prístup:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E9234CD39F9648&seo=CRZP-detail-kniha
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Fyzický popis:92 s.

Podobné jednotky