Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre 5G sieť

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Benc, Peter (Autor)
Ďalší autori: Stuchlíková, Ľubica (Vedúci práce)
Médium: Rukopis Kniha
Jazyk:Slovak
Vydavateľské údaje: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
Predmet:
On-line prístup:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=CF9E62B1F4156FE3B82D0284D7C8&seo=CRZP-detail-kniha
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp81794
003 SK-STU
005 20210817123404.1
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Benc, Peter  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 98233  |U E030  |Y 549  |7 98233 
242 0 1 |a Investigation of Defects in Advanced Transistor Structures for 5G network  |y eng 
245 1 0 |a Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre 5G sieť 
260 |a Bratislava : 
260 |b STU v Bratislave FEI, 
260 |c 2021 
300 |a 43 s. 
650 4 |a hlboké energetické hladiny  |2 slo 
650 4 |a AlGaN/GaN HEMT  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a AlGaN/GaN HEMT  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
650 4 |a deep energy levels  |2 eng 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=CF9E62B1F4156FE3B82D0284D7C8&seo=CRZP-detail-kniha