Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Puváková, Emma (Author)
Other Authors: Benko, Peter (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Subjects:
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildW6VCU&sid=C0DEB8E07572332BA3200A15805F&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp88228
003 SK-STU
005 20241125141642.0
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Puváková, Emma  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 98100  |U E030  |Y 549  |7 98100 
242 0 1 |a Hardware and software design for automated testing of integrated circuits  |y eng 
245 1 0 |a Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 90 s. 
650 4 |a integrovaný obvod  |2 slo 
650 4 |a automatické testovacie zariadenie  |2 slo 
650 4 |a voltampérové charakteristiky  |2 slo 
650 4 |a kontaktné testy  |2 slo 
650 4 |a testovanie  |2 slo 
650 4 |a integrated circuits  |2 eng 
650 4 |a automatic test equipment  |2 eng 
650 4 |a testing  |2 eng 
650 4 |a volt-ampere characteristics  |2 eng 
650 4 |a contact tests  |2 eng 
700 1 |a Benko, Peter  |u 033000  |k Z2  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 5148  |U E030  |Y 549  |7 A000005148 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildW6VCU&sid=C0DEB8E07572332BA3200A15805F&seo=CRZP-detail-kniha